本文標(biāo)題："電子顯微鏡觀察微分電容影像與表面形貌影像"
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電子顯微鏡觀察微分電容影像與表面形貌影像
電性掃描探針顯微術(shù)為納米級的電性量測分析技術(shù)，其肇始與技術(shù)研發(fā)皆源自于納米電子與光電產(chǎn)業(yè)的強(qiáng)烈需求，
但其分析結(jié)果卻因光擾效應(yīng)的存在而導(dǎo)致極大的量測不確定度，為建立同步觀察微分電容影像與表面形貌影像之納米電性分析技術(shù)，
電性掃描探針顯微鏡的光擾問題提出一項(xiàng)解決方案，更進(jìn)一步的意義在于使用者可以經(jīng)由功能性探針的選擇，
發(fā)現(xiàn)新的物理現(xiàn)象與避免儀器設(shè)備所產(chǎn)生的應(yīng)用限制，對于目前世界上許多已經(jīng)擁有電性掃描探針顯微鏡的使用者而言，
采用前翼懸臂導(dǎo)電探針以避免光擾問題所帶來的困擾是相當(dāng)經(jīng)濟(jì)且實(shí)際的作法。
此外，光擾問題的發(fā)現(xiàn)，亦使儀器設(shè)備商意識到發(fā)展納米技術(shù)與追尋納米訊號的同時(shí)，仍不可忽略習(xí)知的物理知識。
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